ME天平
产品简介ME分析天平采用人体工程学设计使常规称量变得轻松高效,基本功能唾手可得,日复一日为您提供精确而可靠的称量结果。详细介绍称量的精髓——与更多ME分析天平采用人体工程学设计使常规称量变得轻松高效...
XP分析天平
XP分析天平引领全球分析天平市场10年之际,梅特勒-托利多推出新超越系列XPE新一代分析天平,融合了诸多当今前沿技术,将称量智能化推向了前所未有的高度!详细介绍XPE分析天平XPE分析天平始终确保可...
XSE分析天平
XSE分析天平提供非常出色的称量性能和质量保证以及卓越的人体工程学设计,它是多个工作场所的完美解决方案。创新的状态指示灯™可免除您在称量方面的担忧。清晰可见的绿灯...
ML分析天平
NewClassicML系列天平具有瑞士品质,在有限预算内为您提供卓越的称量性能,是您日常工作的得力助手。梅特勒-托利多将单模块传感器(MonoBloc)集成在便携式天平内——您可以在任何需要的地方...
VOC检测仪
详细介绍PDA600台式VOC检测仪产品特点:◆VOC检测仪zui多配置6个传感器测量通道,3个非分光式红外(NDIR)测量原理通道,3个其它测量原理通道(电化学原理、非色散红外(NDIR)原理、P...
硫化氢检测仪
硫化氢报警仪高精度、高灵敏度的进口传感器,自动跟踪零点,满量程漂移、温度补偿,防高浓度气体冲击的自动保护功能,全软件校准功能,自动归零,操作简单,内置独立气室,响应迅速,内置气体采样泵,采样距离10...
甲烷检测仪
详细介绍甲烷检测仪操作规范:1、标定校准人员必须经过培训,了解仪器的原理和性能,熟练掌握操作技能,持证上岗证。2、调校人员要严格按照操作规程进行操作。3、使用的仪器必须经过计量鉴定合格后方可使用。4...
臭氧检测仪
臭氧检测仪采用原装进口高性能臭氧传感器,是一款可对臭氧气体进行连续监测并具有人员跌倒报警功能的智能化高性能检测报警仪器。仪器内置温湿度传感器,实时显示环境温、湿度。GASTiger2000的无线功能...
四氢噻吩检测仪
详细介绍PDA600四氢噻吩检测仪产品简介:PDA600四氢噻吩检测仪是一款主要采用非分光式红外(NDIR)测量原理可对多种组分气体进行连续在线监测的智能化高性能分析仪器。分析仪配置5寸触摸TFT-...
密闭制冷加热循环装置
产品简介密闭制冷加热循环装置全封闭循环系统,高温时导热流体不易挥发和氧化,低温下不易吸入空气中的水分,可延长导热流体的使用寿命。详细介绍密闭制冷加热循环装置使用范围:能够提供冷源和热源的循环装置,工...
实验室循环冷却器
产品简介长城科工贸是专业生产实验室循环冷却器的生产厂家,此产品主要用于为需冷设备提供超低温循环冷却液体,满足低温反应条件要求。可与20L、50L、100L等反应釜配套使用,将反应釜内物料冷却到-70...
实验室旋转蒸发器
产品简介实验室旋转蒸发器可与循环水式多用真空泵、隔膜真空泵、低温循环(真空)泵、循环冷却器、恒温循环器、低温冷却液循环泵等配套组成系统装置。详细介绍旋转蒸发器的使用实验室旋转蒸发器产品特点●Tefl...
实验室玻璃反应器
产品简介实验室玻璃反应器特点:1.蜀牛牌高硼硅玻璃材质反应釜2.PTFE搅拌桨(搅拌叶),搅拌轴和釜盖之间的密封方式和材料为郑州长城科工贸有限公司技术诀窍3.无死腔设计的防腐放疗阀门详细介绍实验室玻...
实验室双层玻璃反应釜
产品简介实验室双层玻璃反应釜内层容器放置反应物料,同时可抽真空和调速搅拌,夹层可导入冷冻液、水和高温液对物料进行升温和冷却。详细介绍实验室双层玻璃反应釜使用范围:双层玻璃反应釜内层容器放置反应物料,...
镀层厚度检测仪
详细介绍CMI233涂层测厚仪CMI233两用型涂层测厚仪,可测量:磁性底材上的非磁性涂层厚度,如钢铁上的非磁性涂镀层,油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等;非磁性底材上的非磁性涂层厚度,如铜、铝、奥氏体不锈...
X射线测厚仪
产品简介X-Strata920镀层测厚仪:又称X射线荧光镀层测厚仪,是能量色散X射线荧光(EDXRF)技术的大型台式测厚仪,是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品,将取代CMI900系列产品...
膜厚测试仪
产品简介膜厚测试仪,分为磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大...
镀层测厚仪
详细介绍测定元素范围:Ti22到U92探测器正比计数器单准直器任选:0.3mm或者0.5mmΦ数字脉冲处理器2048通道、数字式多通道分析器电源要求:110V/230V60Hz/50Hz镀层和成分分...
膜厚仪
详细介绍膜厚仪厂家电涡流测量原理高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小...