XP分析天平引领全球分析天平市场10年之际，梅特勒-托利多推出新超越系列XPE新一代分析天平，融合了诸多当今前沿技术，将称量智能化推向了前所未有的高度！
详细介绍
XPE分析天平
XPE分析天平
始终确保可靠称量
独特性能
StaticDetect?静电检测和静电消除技术，加上先进的SmartGrid网格秤盘为您提供具有重复性的可靠结果。创新型StatusLight?天平就绪指示灯以及利用TestManager?测试管理功能轻松进行日常测试可提高您的质量管理且易于合规。
独特性能
轻松满足法规
StatusLight状态指示灯使用颜色直观地显示天平的状态：绿色表示准备就绪，黄色表示警告，红色表示错误。StatusLight状态指示灯清晰地显示天平是否已准备好开始称量任务。
轻松满足法规
zui大限度地减少静电荷
我们的StaticDetect静电检测技术可检测样品或其容器上的静电荷。如果称量错误超过用户定义的限值，则出现警告；然后可以采取防静电措施。为了获得过程安全性，可锁定称量结果的发布。
限度地减少静电荷
用户引导过程管理
梅特勒-托利多的LabX?实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的SOP用户指南。利用自动数据处理、计算和报告，具有LabX软件的天平可以轻松实现??过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。
用户引导过程管理
结果可靠
超越系列分析天平将梅特勒-托利多称量技术与数十年的称量专业知识相结合，确保您快速、可靠地获得zui佳的称量结果！
XP分析天平
http://www.chem17.com/st303830/erlist_1101399.html
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